Medidor LCR de precisión ST2838

Destacados

• Frecuencias: 20Hz - 2MHz
• Precisión básica: 0,05%
• Pantalla LCD en color de 800x600
• Velocidad de medición: 13ms
• Interfaces: RS232, USB DEVICE, LAN-LXI, HANDER, GPIB (opcional), SCANER(opcional), DC BIAS externo
• 201 Puntos Función de barrido de la lista
• Velocidad de prueba: hasta 5,6 ms

Especificaciones

• Pantalla LCD TFT de 7 pulgadas 16:9 con una resolución de 800x600
• Hasta 2MHz de frecuencia de prueba
• Resolución de hasta 0,1mHz
• Gama de amplitud de la señal de CA: resolución de 5mV a 2Vrms
• Rango de corriente de la señal de CA: 50µArms -- 20mArms
• La velocidad de las pruebas es de hasta 75más/seg
• Fuente de polarización integrada de 0-100mA/0-10V DC
• Función de barrido gráfico multiparamétrico
• Operación aritmética
• 10 cubos de clasificación, resultado de la clasificación con alarma sonora y luminosa
• Enorme espacio de almacenamiento:
• Internamente: 100 grupos de archivos de configuración, 10 grupos de archivos de imágenes gif
• Externo: 100 grupos de archivos de configuración a través del almacenamiento USB
• Parámetros de prueba: Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc, Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc, R-X, Z-θd, Z-θr, G-B, Y-θd, Y-θr, Vdc-Idc
• Función matemática: A(X+B)+C, X es el parámetro de prueba, A, B,C es el parámetro de entrada
• Circuito equivalente: en serie, en paralelo
• Función de calibración: OPEN, SHORT, LOAD
• Selección de rango: AUTO, HOLD
• Capacidad de prueba del transformador de alta relación de giro y acoplamiento débil
• Sistema de etiquetado de tiempo flexible: se puede guardar el tiempo de ajuste del archivo, la calibración y la deducción
• Modos de desviación y deducción flexibles
• Múltiples formas de manejo para los casos FAIL
• Se puede utilizar el ciclo de prueba de un solo parámetro para probar un devanado independiente
• Los datos de las pruebas y los gráficos se pueden guardar en formato GIF en la memoria USB
• El software incorporado proporciona capacidades de análisis, como Cpk, Cp y Ck
• La función de lectura del código de barras puede utilizarse para seleccionar un archivo de configuración o para gestionar el tipo de productos de prueba
• Soporta comandos SCPI, compatible con KEYSIGHT E4980A, E4980AL, HP4284A etc.
• Para conectar en red varios comprobadores a través de la interfaz LAN-LXI
• Dimensión (mm): 400(W) x 132(H) x425(D)
• Peso: 15kg

Rangos de visualización de medidas

Qué hay en la caja

• ST26011B Terminal de pinza Kelvin
• ST26005C Accesorio de prueba de 4 terminales
• Manual de funcionamiento
• Cable de alimentación
• Certificado de calibración de fábrica

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Downloads

• ST2838 User Manual (2.94 MB)

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Datos técnicos

Rango de visualización de la prueba	a 1x10-18 ; E 1x1018
Cs, Cp	±1,000000 aF -- 999,9999 EF
Ls, Lp	±1,000000 aH -- 999,9999 EH
D	±0,000001 -- 9,999999
Q	±0,01 -- 99999,99
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc	±1,000000 aΩ -- 999,9999 EΩ
G,B,Y	±1,000000 aS -- 999,9999 ES
Vdc	±1,000000 aV -- 999,9999 EV
Idc	±1,000000 aA -- 999,9999 EA
θ r	±1,000000 a rad -- 3,141593 rad
θ d	±0.0001 deg -- 180.0000 deg
Δ %	±0,0001% -- 999,9999%
t	-99,99°C -- 1000,00°C

Model		ST2838		ST2838H			ST2838A
Test Signal Source
Output impedance		100Ω, ±1% @1kHz
Frequency	Range	20Hz - 2MHz					20Hz - 1Mhz
	Resolution	20.0000Hz - 99.9999Hz, 0.1mHz
		100.000Hz - 999.999Hz, 1mHz
		1.00000kHz - 9.99999kHz, 10mHz
		10.0000kHz - 99.9999kHz, 0.1Hz
		100.000kHz - 999.999kHz, 1Hz
		1.00000MHz - 2.00000MHz 10Hz
AC test signal		Rated value(ALC OFF): Set the voltage as the Hcur voltage when the test terminal is open Set the current as the Hcur current when the test terminal is short Constant value(ALC ON): Keep the voltage in DUT is the same as the set value Keep the current in DUT is the same as the set value
AC signal	Voltage range	5mVrms -- 2Vrms		F≤1MHz 5mVrms-- 20Vrms F >1MHz 5mVrms -- 15Vrms			5mVrms -- 2Vrms
	Resolution	5mVrms -- 0.2Vrms, 100μVrms
		0.2Vrms -- 0.5Vrms, 200μVrms
		0.5Vrms -- 1Vrms, 500μVrms
		1Vrms -- 2Vrms, 1mVrms
		2Vrms -- 5Vrms, 2mVrms
		5Vrms -- 10Vrms, 5mVrms
		10Vrms -- 20Vrms, 10mVrms
	Current range	50μArms -- 20mArms		50μArms --100mArms			50μArms -- 20mArms
	Resolution	50μArms -- 2mArms, 1 μArms
		2mArms -- 5mArms, 2 μArms
		5mArms -- 10mArms, 5 μArms
		10mArms -- 20mArms, 10μArms
		20mArms -- 50mArms, 20μArms
		50mArms--100mArms, 50μArms
Rdc test	Voltage range	100mV — 2V
	Resolution	100μV
	Current range	0mA— 20mA
	Resolution	1μA
DC Bias	Voltage range	0V — ± 10V		0V — ± 40V			0V — ± 10V
	Resolution	0V -- 5V, 100μV
		5V -- 10V, 1mV
		10V -- 20V, 2mV
		20V -- 40V, 5mV
	Current range	0mA— ± 100mA
	Resolution	0 A -- 50mA, 1μA
		50mA -- 100mA, 10μA
Voltage source	Voltage range	-		-10V -- 10V			-
	Resolution	-		1mV			-
	Current range	-		-45mA -- +45mA			-
	Output impedance	-		100Ω			-
Display
Dimensions / typ		7-inch (diagonal)TFT LCD display
Proportion		16:9
Resolution		800×RGB×480
Test function
Test parameter		Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc R-X, Z-θd, Z-θr G-B, Y-θd, Y-θr Vdc-Idc
Mathematics function		A(X+B)+C, X is test parameter, A, B,C is input parameter
Equivalent circuit		Series, parallel
Deviation measurement		Absolute deviation Δ compared with the nominal value Percentage deviation Δ% compared with the nominal value
Calibration function		OPEN, SHORT, LOAD
Range selection		AUTO, HOLD
Range	LCR	100mΩ, 1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ, total 15 ranges
	Rdc	1Ω, 10Ω, 20Ω, 50Ω, 100Ω, 200Ω, 500Ω, 1kΩ, 2kΩ, 5kΩ, 10kΩ, 20kΩ, 50kΩ, 100kΩ, total 15 ranges
Trigger mode		INT, MAN, EXT, BUS
Trigger delay		0 s -- 999 s, resolution 100us
Test terminal configuration		Four-pair
Test cable length		0m, 1m
Test average		1-255 times
Test time (ms)	Speed mode	20Hz	100Hz	1kHz	10kHz	100kHz	1MHz	2MHz
	FAST	330	100	20	7.7	5.7	5.6	5.6
	MED	380	180	110	92	89	88	88
	LONG	480	300	240	230	220	220	220
Test display range a 1×10 ^-18; E 1×10^18
Cs, Cp		±1.000000 aF -- 999.9999 EF
Ls,Lp		±1.000000 aH -- 999.9999 EH
D		±0.000001 -- 9.999999
Q		±0.01 -- 99999.99
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc		±1.000000 aΩ -- 999.9999 EΩ
G,B,Y		±1. 000000 aS -- 999.9999 ES
Vdc		±1.000000 aV -- 999.9999 EV
Idc		±1.000000 aA -- 999.9999 EA
θ r		±1.000000 a rad -- 3.141593 rad
θ d		±0.0001 deg -- 180.0000 deg
Δ%		±0.0001% -- 999.9999%
t		-99.99°C -- 1000.00°C
Turn Ratio (extension pending)		±0.000000 -- 1000.000
Basic test accuracy		0.05% (the details refer to the instruction)
List sweep
Sweep points		Up to 201 points
Sweep Parameters		Test frequency, AC voltage, AC current, DC BIAS voltage, DC BIAS current
Trigger mode	SEQ	Once triggered, test at the sweep points. /EOM/INDEX will be output one time.
	STEP	Once triggered, test at one sweep point. /EOM/INDEX will be output at each point, but the list sweep comparator results only be output at the last /EOM.
List sweep comparator		Set one pair of lower limit and upper limit for each sweep point. Optional: judge through the first sweep parameter / judge through the second sweep parameter / not used in each limit.
List sweep time tag		In SEQ mode, set the trigger point to 0, by defining the time, the test start time can be recorded at each measurement point.
Graph sweep analysis
Sweep points		51, 101, 201, 401 or 801					-
Sweep trace		Primary or secondary parameters					-
Display range		AUTO, HOLD					-
Coordinate scale		Logarithm, linearity					-
Sweep parameters		Test frequency, ACV, ACI, DCV BIAS/DCI BIAS, DC voltage source					-
Sweep result display		Maximum value/ minimum value of primary/secondary parameter, primary/secondary value of the setting point					-
Sweep graph storage		Sweep graphs can be saved to the interior FLASH, external USB storage or uploaded to the upper computer.					-
Comparator
Bin sorting	Primary parameter	9 BIN, OUT_OF_BINS, AUX_BIN, LOW_C_REJECT
	Secondary parameter	HIGH, IN, LOW
Bin limit setup		Absolute value, deviation value, percentage deviation value
Bin count		0 -- 999999
PASS/FAIL indication		When the primary parameter is one of the 9 BINs and the secondary parameter is IN, the PASS light on the front panel is ON, or FAIL light is ON.
Test auxiliary function
Data buffer storage function		201 test results can be read in batches
Storage/Calling function		100 groups of test setting files in the internal nonvolatile memory 0--99 100 groups of test setting files in the USB storage 0—99
Keyboard lockout function		Front panel keys can be locked
USB HOST port		Universal Serial Bus socket, A class; FAT16/FAT32 format. USB flash disk storage or barcode scanning
USB DEVICE port		Universal Serial Bus socket, small size B class (4 contact position); Correspond to USBTMC-USB488 and USB 2.0 The female joint is used for connecting the external control unit.
LAN		10/100BaseT Ethernet, 8pins, two selectable speed mode
HANDLER interface		Be used for bin sorting signal output
External DC BIAS control		Control TH1778/TH1778S Bias current source, at most 1 set of TH1778+5 sets of TH1778S (120A MAX)
RS232
GPIB (option)		24 pin D-Sub port (D-24 class), the female joint is compatible with IEEE488.1, 2 and SCPI.
SCANNER